X線解析ってどうやるの?
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NGNGリファレンスが無いと出来ないですね。
予想される弊害ですが、粉末法との比較ってことですから、多結晶体の測定という前提としますと、
・結晶粒不揃→強度比が理論値と合わない(角度位置は変わらない)
・板厚がばらつく→オフセット誤差(測定面が軸中心からずれている場合)
オフセット誤差は、角度位置が変わります。
・配向がある→強度比が理論値と合わない(角度位置は変わらない)
あと、経験的に、多結晶バルク体で測定すると角度がずれる(しかも±1〜2度)ことが
よくあります。理由はよく分かりません。
まあ、多結晶バルク体で測定すること自体はよくやってる方法だと思いますので、粉末と違う点を
頭に置いておけば、それなりのデータは取れると思います。
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