>>835

君には、

▼破損事故発生のメカニズムについて

や

図２ -オシロスコープ実測波形 ※Mac本体のFireWireポートを測定
　　　PowerMac G4 450 M5183 + FR-DK1 (リムーバブルケース)
図４ -オシロスコープ実測波形※VAIOのIEEE1394ポートを測定
　　　SONY VAIO RX66 + FR-DK1

という文字と図形が見えないらしいな(笑

それに内部部品の測定結果など、あったとしても出すわけが無い。
再現性と直接原因の特定に関する資料だけでラトックは十分だろ。
それ以上はアップルの責任なんだよ。