>>372
まずSA絞りで囲った中に含まれてる母相からの反射は排除できないよ、
ってのはいいですね。ここまでやろうとすると抽出レプリカしかない。

対物レンズから蛍光板（あるいはフィルム）までの間には、絞りは
２種類ありますよね。
OL絞りとSA絞り。
で、これらはそれぞれ対物の
後焦点面(OL)
第一像面(SA)
にあります（理屈の上では）。

対物後焦点面には、回折模様ができます（理屈の上では）。
第一像面(SA)とあわせると、これら２つの絞りは対物のつくる
２種類の像（回折を像というと怒る先生がいるが・・）のできる高さに
設置してあります。

で、電子顕微鏡で実像モード、回折モードを切り替えるとどうなるか？
対物の電流は原則的には変わりません。

私が人に説明するときは、中間レンズ以下を別なカメラとしてとらえ、
対物の作る上述の２種類の像を、このカメラがピントを変えて撮り分けている、
と考えてもらったりしております。
もちろん、近くの第一像面(SA絞り位置)を撮影するときが実像モード、
ちょっと上の回折模様(OL絞り位置)を撮影する設定が回折モード。

両モードの切り替えで対物電流は変わりませんから、中間レンズ以下を
回折モードにしても、SA絞りが第一像面位置で像をフィルターしている状況
（実像モードで設定した）は変わりません。
回折モードの時のSA絞りって言うのは、像とレンズの間に挟まっている、
ということで、まさに写真機のフィルター（例えば偏光フィルター）と
同じようなものですね。

このフィルターって考えがなじめなければ、やはり375氏のように、
この囲われた像からまた始めて、次のレンズ（中間レンズ）による
像と回折パターンの結像を考えてもいいんですが・・・

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私もかつて制限視野電子線回折ちゅうのを「上から」ばっかり考えて
頭、ウニになったことがあります。
で、編み出したのが、途中から「下から」考える（インター以下を
別なカメラとして考える）方法です。ご参考になれば。
よけいに混乱したら、ゴメン。
でも最近は、ビーム自体が絞れるから、SA-diffやる機会も・・・