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X線回折装置の光学系について
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0003
sputterでつ
NG
NG
今日カリティの本を見つけに図書館に行ったのですが、
実はもう調べていた本で
光学系の違いで強度、分解能の違いはわかったのですが
試料が薄膜(10nm以下)で測定方法をθ-2θscanとした場合
集中光学系と平行光学系ではどのような違いが出てくるのでしょうか?
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