memtest 的なやり方では検出できないエラーの例：
　＊）リフレッシュ動作の不良
　＊）メモリーセルの絶縁不良で、アクセスせずに放置すると
　　　電荷が減少して内容が化けるパターン。
じゃんじゃんアクセスしまくって試験をするというやりかただと、
記憶の劣化的なエラーは検出できない。パターンをかいて、３０分
とか１時間アクセスせずに放置してみて、内容が変化していないか
というような試験項目が必要、しかも各種ランダムパターンで。